Descrição

Lançamento da SIUI: Combinação de Ultrassom Convencional e Medidor de Espessura

O mais novo lançamento da SIUI combina a tecnologia de ultrassom convencional com um medidor de espessura de alta precisão, ideal para aplicações em inspeções de solda e avaliação de materiais. Essa ferramenta avançada oferece uma série de funcionalidades inovadoras que facilitam o processo de calibração e a obtenção de resultados precisos em campo.

Principais Funcionalidades:

  • Croqui de Solda
  • DAC (Distance Amplitude Curve)
  • AVG (Average Gain Value)
  • Assistente de Calibração
  • B-Scan (Imagem Bidimensional)

Especificações Técnicas:

  • PRF (Taxa de Repetição de Pulso): 20 ~ 2000Hz – Passos de 20Hz
  • Damping (Atenuação): 25 / 75 / 200 / 1000 Ω
  • Frequência de Operação: 0,5 ~ 20MHz, com opções em passos de 1-4 / 0,5-10 / 2-20 / 1 / 2,5 / 4 / 5 / 10 / 13 / 15 / 20MHz
  • Ganho: 0 ~ 110dB, com ajustes de 0,5 / 2 / 6 / 12dB
  • Range: 0 ~ 13000mm (Onda Longitudinal no Aço Carbono)
  • Retificação: Positiva, Negativa, Completa, Filtrada e RF (Rádio Frequência)
  • Auto Freeze (Congelamento Automático de Imagem)
  • Curvas de Calibração:
    • DAC
    • AVG / DGS
    • AWS D1.1 / D1.5
    • API 5UE
    • TCG (Time Corrected Gain)
  • Conectividade: Entrada Ethernet para comunicação com computador e saída VGA
  • Tela: 5,7” LCD com resolução de 640 x 480 pixels
  • Unidades de Medida: Milímetro / Polegada
  • Idiomas Disponíveis: Chinês, Inglês, Japonês, Francês, Espanhol, Russo, Alemão, Português, Polonês
  • Bateria: Autonomia de até 7 horas de uso contínuo
  • Temperatura de Operação: -10 ~ 40°C
  • Classificação de Proteção: IP65 (Opcional IP67)
  • Peso com Bateria: 1,25kg
  • Dimensões: 152 x 240 x 52 mm (Largura x Altura x Comprimento)

Com esse lançamento, a SIUI oferece uma solução compacta, robusta e versátil para inspeções industriais e medições de espessura com alto desempenho, tanto em ambientes de campo quanto em laboratórios.

DAC

TCG

AVG/DGS

BEA

Simulação de solda plana

B-Scan

Coat Mode

Multilayers

B-Scan

Vpath

TDG